SJ 50033.107-1996 半导体分立器件2EY621、2EY622、2EY623型体效应二极管详细规范
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0.51 |
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7 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/107-96,半导体分立器件,2EY621、2EY622、2EY623 型体,效应二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for Gunn diodes for type,2EY621,2EY622,2EY623,1996.08030 发布1997.01.01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2EY621、2EY622、2EY623 型体效应二极管 SJ 50033ハ07—96,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for Gunn diodes for type 2EY621,2EY622,2EY623,1范,1.1 主题内容,本规范规定了 2EY621、2EY622、2EY623型体效应二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33 - 85《半导体分立器件总规范》1 . 3条的规定,提供的质量保证等级为普军级、特,军级、超特军级、分别用GP、GT、GCT表示,2引用文件,GB 6570—86 微波二级管测试方法,GJB 33—85 半导体分立器件总规范,GJB 128— 6 半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应符合GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料应为铜,表面涂层应为金,3.2.2 器件结构,本器件采用n+ -n-n.碑化钱外延材料,电镀热沉,台式结构,同轴管壳封装,3.2.3 外形尺寸,中华人民共和国电子工业部!996-08-30发布1997-01-01 实施,1,SJ 50033/107-96,mm,ヽ,符琛、、,W10-01,min nom max,也0.60 0.62,h 5.70 6.30,殯0.37 0.43,M M2,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.I 最大额定值,型号,工作电压,V,工作电流,10D,mA,工作温度,Tod,匕,贮存温度,ア,/ atg,匕,2EY621,2EY622,2EY623,4.0 1000 —40.85 -65-175,3.3.2 主要电特性（ら=25匕）,特性和条件,输入功率,Po,mW,工作频率,foD,GHz,工作电压,Vod,V,工作电流,mA,低场电阻,a,型 2EY621 >5,2EY622 >15 9〇.100 3~4 <1000 0.5-2.0,号 2EY623 >25,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 6570和本规范的规定,SJ 50033/107-96,3.5标志,器件极性标志按图1识别,器件包装盒上的标志应符合GJB 33的规定,4质量保证规定,4.1,4.2,抽样和检验,抽样和检验按GJB 33和本规范的规定,鉴定检验,鉴定检验按GJB 33和本规范的规定,筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定,其测试应按本规范3.4条规定进行,超出本规范,表1极限值的器件应予剔除,筛选表,筛 选,见GJB 33表2,试验方法,GJB 128,测试和试验,2,3,5,6,7,高温寿命,热冲击,密封,高温反偏,中间测试,1032,1051,1071,国电老炼1038,9 最后测试,200V,72h,除循环20次外,其余同试验条件F,不适用,不适用,Ro、ヘR0,见 4.3.1,AKo/Ko<5%,其它参数按本规范表1的A2和A4,分组要求,4.3.1电老炼,电老炼条件如下:,Ta = loor , Vqd = 4. 2V" = lh,将器件安装在 90mm メ 90mm X 4mm 的铝板上,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33的规定,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定,4.4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定,4.5 检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应的表,3,SJ 50033/107-96,检验或试验,GB 6570,方法 条件,表1 A组检验,LTPD 符号,极限值,位,最小值最大值,Al分组,外观及机械,检验,GJB 128,2071,A2分组,低场电阻B.1 10mA,A4分组,工作电流,工作频率,输出功率,2EY 621,2EY622,2EY623,检验或试验,B2分组,热冲击,（温度循环）,最后测试,B.5 Vod = 3 .4V,5,5,5,表2 B组检验,GJB 12,方 法 条,1051,0.5 2.0,1000 mA,/OD 90,5,15,25,件,试验条件F-1,25次循环,￡ （极限值）,25ヒ上,不要求有规则的停顿,见表4,步骤1、2,100 GHz,mW,mW,mW,LTPD,10,B3分组,稳态エ寿命,最后测试,1027,5,7\ = 253 Vod = 2.5V,器件安装 在90mm 乂 90mm X 4mm,的铝板上,见表明步骤2、3,B6分组,高温寿命,（不工作）,最后测试,1032 TA=175X：U = 340h,见表4,步骤2、3,7,表3 C组检验,试……
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